熱釋光輻照器(或熱釋光劑量儀)是一種基于熱釋光效應原理設計的設備，主要用于檢測材料是否接受過電離輻射照射，并能定量分析所吸收的輻射劑量。
熱釋光效應是指某些晶體材料(如氟化鋰、硫酸鈣等)在受到X射線、γ射線等電離輻射照射時，輻射能量會使晶格中的電子脫離束縛，被晶格缺陷(如雜質(zhì)、空位)捕獲并儲存，形成“能量陷阱”。當材料被加熱時，被捕獲的電子獲得能量脫離陷阱，回到穩(wěn)定狀態(tài)，同時將儲存的輻射能量以可見光的形式釋放。釋放的光強度與材料吸收的輻射劑量在一定范圍內(nèi)呈線性關系，通過測量光強度即可換算出輻照劑量。
其核心工作原理是：某些材料(如氟化鋰晶體)在受到輻射(如X射線、γ射線)照射時，能量會被晶格缺陷捕獲并儲存；當這些材料被加熱時，儲存的能量會以可見光的形式釋放出來，光的強度與吸收的輻射劑量呈線性關系，通過測量光強度即可換算出劑量大小。
主要功能
輻照檢測：判斷材料是否接受過輻照處理，例如檢測食品是否經(jīng)過輻照殺菌。
劑量分析：定量分析輻照劑量，為輻射防護、環(huán)境監(jiān)測等領域提供數(shù)據(jù)支持。
探測器篩選與刻度：對經(jīng)過退火處理后的熱釋光探測器進行輻照，標定劑量，確保劑量測量的準確性。
維護保養(yǎng)
每日使用前：檢查屏蔽門密封是否完好、劑量監(jiān)測系統(tǒng)是否正常、控制系統(tǒng)按鍵響應是否靈敏；
每周：清潔樣品室和準直器，去除灰塵和污漬(避免影響輻射場均勻度)；
每年：送國家計量院或授權(quán)機構(gòu)進行校準，更新校準證書；檢查輻射源密封性，防止泄漏；
長期不用：關閉輻射源開關(如為 X 射線源)，或確保屏蔽體閉合，定期通電檢查設備狀態(tài)。
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郵箱：info@clovertek.com
傳真：86-010-88026856
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